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​D&S AE1/RD1发射率测量仪:测量小型或不规则材料表面发射率

发布时间:2026/6/136

D&S AE1/RD1发射率测量仪:测试小型或不规则材料表面的发射率


D&S公司的AE1型发射率计与RD1型可调数字电压表的组合,为应对上述测量挑战提供了一个专门设计的、高效且可靠的解决方案。它将实验室级的精度与现场应用的便捷性结合。  

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核心技术与工作原理


AE1发射率计用于测量总半球发射率,这正是大多数热传递计算和标准合规性所需要的物理量。其设计的核心创新在于其独特的工作原理:  


仪器内部的探测器被电加热至一个稳定温度,而待测样品本身无需加热 。  


这种设计巧妙地运用了量热法测量原理——通过直接测量探测器与样品之间的辐射热交换来确定发射率——但极大地简化了操作流程。传统方法通常需要对样品进行加热,这不仅耗时,还可能对样品造成不可逆的损伤。AE1的加热探测器设计,使得测量过程无损,并且无需进行任何复杂的温度测量,从而革命性地提升了测量的便捷性和速度。  

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关键特性与用户收益



表:D&S Model AE1/RD1 关键技术规格


下表总结了AE1/RD1发射率计的核心技术参数,为技术人员提供了快速参考。

规格数值 / 描述
测量原理近似测量在65°C (150°F)下的总半球发射率
符合标准ASTM C1371, ISO 要求
重复性$pm 0.01$ 发射率单位
线性度$pm 0.01$发射率单位
易用性探测器电加热(样品不加热);无需温度测量
测量速度30分钟预热后,约90秒/次读数
标准样品尺寸2.25英寸 (5.7 cm) 的平坦表面
可选适配器适用于最小至1.0英寸 (2.54 cm) 的平坦样品;适用于粗糙、低导热性或圆柱形表面
读数设备RD1型可调数字电压表,直接读取发射率
随附附件高/低发射率标准样品、散热块、手提箱、通用电源
关键选件电池包(12小时续航)、、10倍增益选项(用于3位小数精度读数)


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